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偏振光追迹

ZEMAX具有完整的偏振光追迹和分析的能力. 任何输入偏振态都可以被定义, 偏振光可以在任何光学系统中被追迹. ZEMAX考虑投射, 反射, 吸收, 偏振态, 二次衰减以及延迟.

偏振光追迹要求计算面和体材料的效应. 面效应决定于面上的光学波膜的特性.

薄膜模型
ZEMAX有扩展地薄膜建模能力来支持偏振分析. 多层电介质膜或金属膜可以从预定义或者用户自定义的材料数据库中被定义.

薄膜可以应用在电介质或金属基底上. 可以由任意材料的层数组成, 每种材料都用复折射率, 全色散模型等建立. 基底可以是玻璃, 金属或者自定义的材料.

如果面从空气-玻璃变为玻璃-空气, ZEMAX自动反转膜层的顺序, 使得不需要定义镜像膜层就使相同的膜层应用于许多面.

利用镀膜的数据, ZEMAX计算出薄膜的二次衰减, 相位, 延迟, 反射, 透射或者吸收随波长或角度的函数关系.

材料建模
ZEMAX中建立了详细的体吸收模型, 包括在任意波长, 通过任意厚度玻璃的透射. 体吸收通常会使光线衰减, 衰减的数量则依赖于光线的光程, 材料特性和波长. 任何材料都可以有自定义的吸收或透射特性.

偏振数据
ZEMAX允许定义非偏振的和偏振的入射光束. ZEMAX在3D空间中追迹电场矢量, 包括每个交界面处的S和P分量. 透射和偏振矢量的特性被详细地建模研究.

偏振光追迹的结果可以以表格或是图形的形式呈现.

点击 这里 下载 ZEMAX 目录(英文).

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